本发明涉及一种现场可编程门阵列器件中使用的互连线测试电路，包括：偶数个向量生成和响应分析器，所述偶数个向量生成和响应分析器中的各个所述向量生成和响应分析器包括一个n输入n输出的逻辑组合电路和一组n位寄存器，其中，n取自然数；且每两个向量生成和响应分析器由方向相反、位宽为n的互连线连接并组成内建自测试电路，本发明的内建自测试电路在寄存器数量不变时，能够实现位宽更大的两组反方向互连线的同时测试，并能够缩短FPGA器件的测试时间，且降低FPGA器件的测试成本。

本发明涉及一种现场可编程门阵列器件中使用的互连线测试电路，包括：偶数个向量生成和响应分析器，所述偶数个向量生成和响应分析器中的各个所述向量生成和响应分析器包括一个n输入n输出的逻辑组合电路和一组n位寄存器，其中，n取自然数；且每两个向量生成和响应分析器由方向相反、位宽为n的互连线连接并组成内建自测试电路，本发明的内建自测试电路在寄存器数量不变时，能够实现位宽更大的两组反方向互连线的同时测试，并能够缩短FPGA器件的测试时间，且降低FPGA器件的测试成本。